Book/Report

FZJ-2018-03897

http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png Aufbau eines optischen Meßplatzes zur Bestimmung der Defektabsorption in amorphen Halbleitern mittels Constant Photocurrent Method (CPM)

Wagner, M. (Corresponding author)FZJ*

1992
Forschungszentrum Jülich GmbH Zentralbibliothek, Verlag Jülich

Please use a persistent id in citations: http://hdl.handle.net/2128/19217

Report No.: Juel-2661

Abstract: Ziel der Constant Photocurrent Method (CPM) ist die Bestimmung des optischen Absorptionskoeffizienten ce von amorphen Halbleitern in Abhängigkeit von der Energie bzw. Wellenlänge des Lichtes. Hierzu bedient man sich des sogenannten sekundären Fotostroms: Eine Probe wird Tiber ohmsche Kontakte an eine Spannungsquelle angeschlossen und mit Licht (hier: monochromatisch) bestrahlt, welches durch optisch angeregte Ladungsgeneration im Material dessen Leitfähigkeit und somit den resultierenden Strom verändert. lm vergleich dazu bezeichnet man den optisch generierten Strom eines in Sperrichtung gepolten pn-Ubergangs als primären Fotostrom.

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Contributing Institute(s):

1. Publikationen vor 2000 (PRE-2000)

Research Program(s):

1. 899 - ohne Topic (POF3-899) (POF3-899)

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Database coverage:

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