Home > Publications database > Aufbau eines optischen Meßplatzes zur Bestimmung der Defektabsorption in amorphen Halbleitern mittels Constant Photocurrent Method (CPM) |
Book/Report | FZJ-2018-03897 |
1992
Forschungszentrum Jülich GmbH Zentralbibliothek, Verlag
Jülich
Please use a persistent id in citations: http://hdl.handle.net/2128/19217
Report No.: Juel-2661
Abstract: Ziel der Constant Photocurrent Method (CPM) ist die Bestimmung des optischen Absorptionskoeffizienten ce von amorphen Halbleitern in Abhängigkeit von der Energie bzw. Wellenlänge des Lichtes. Hierzu bedient man sich des sogenannten sekundären Fotostroms: Eine Probe wird Tiber ohmsche Kontakte an eine Spannungsquelle angeschlossen und mit Licht (hier: monochromatisch) bestrahlt, welches durch optisch angeregte Ladungsgeneration im Material dessen Leitfähigkeit und somit den resultierenden Strom verändert. lm vergleich dazu bezeichnet man den optisch generierten Strom eines in Sperrichtung gepolten pn-Ubergangs als primären Fotostrom.
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